现代可靠性水平下的IC可靠性认证挑战

讲师：白世松

本次论坛以“现代可靠性水平下的IC可靠性认证挑战”为主题，邀请在器件可靠性摸爬滚打20年的资深专家——白世松前辈来为大家分享其宝贵且丰富的技术经验，从现代IC可靠性水平、可靠性评价技术、认证方案、企业芯片失效典型案例分析、问题起因探究等方面内容进行讲解和最新研究展示，共同探讨集成电路可靠性认证技术与时俱进的发展之路。