统计过程控制(高级)

统计过程控制(高级)

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授课讲师:朱跃进

讲师资历

培训时长 1-2天
授课对象 厂长、品质部/生产部/研发部/工程部/采购部等部门经理/主管、品质工程师、过程工程师、IE、基层核心员工以及对SPC感兴趣的人士
授课方式 内训

课程目标

课程大纲

一、 统计过程控制概述

1.持续可信的品质——CPK

2.统计过程控制的起源与发展

3.SPC基本概念

4.过程控制原理

5.SPC的工具——控制图

6.SPC的目标

7.SPC的应用及收益

 

二、 SPC统计基础

1.现代质量管理学的统计观点

2.概率与随机现象

3.计量型数据和计数型数据

4.总体与样本

5.统计量:均值、方差、标准差

6.正态分布——品管核心统计理论

7.用正态分布展示和评价过程

8.过程的位置和分布(离散度)

9.中心极限定理

10.3σ质量与6σ质量

 

三、 变异知识

1.变异与波动

2.质量波动的因素分类--- 5M1E

3.特殊原因和共同原因

4.统计控制状态

5.局部问题和系统改进

6.波动、过程控制和过程能力

 

四、 控制图原理

1.控制图样式

2.两类错误

3.休哈特“3σ原则”

4.分析用控制图和监控用控制图

5.常规控制图的分类

6.统计过程控制原则

7.控制图 8条判异准则

8.如何选择控制图

 

五、 控制图数据采集

1.为什么要收集数据

2.数据收集计划

3.如何确定控制项目--关键质量特性

4.控制图数据规模

5.采集控制图数据的步骤

6.修哈特的“合理子组原则”

7.数据的分层问题

8.控制图数据的时间序列特性

9.直方图数据不能做控制图

 

六、 计量型控制图

1.Xbar-R图 (均值-极差)

2.Xbar-s 图 (均值-标准差)

3.中位数- R图 (中位数-极差)

4. X-MR 图 (单值-移动极差)

 

七、 计数型控制图

1. P 图 (不合格品率)

2. np图 (不合格品数)

3. c 图 (缺陷数)

4. u 图 (单位缺陷数)

 

八、 过程能力研究

1.过程能力研究的目的

2.过程能力研究的步骤

3.过程能力的概念:过程能力指数CP和CPK\ 过程性能指数PP和PPK

4.过程短期能力研究与过程长期能力研究

6.过程能力改进:减少普通原因持续改进过程潜力\减少特殊原因持续改进过程表现

7.能力指数计算流程

8.能力指数计算实例

9.过程能力指数研究时机

10.过程能力和过程性能指数计算前提条件

 

  控制图使用及策略

1.控制图运用流程

2.控制图界限的确定与发布

3.控制图的记录

4.对异常点的处置

5.不要混淆控制界限和规格界限

6.过程中心偏离目标的调整策略

7.控制界限的重新计算问题

8.用控制图确认改善效果