统计过程控制(初级)

统计过程控制(初级)

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授课讲师:朱跃进

讲师资历

培训时长 1-2天
授课对象 厂长、品质部/生产部/研发部/工程部/采购部等部门经理/主管、品质工程师、过程工程师、IE、基层核心员工以及对SPC感兴趣的人士
授课方式 内训

课程目标

课程大纲

一、 统计过程控制概述

——统计过程控制的起源与发展

——SPC基本概念

——过程控制原理

——SPC的工具——控制图

——SPC的目标

——SPC的应用及收益

 

二、 SPC统计基础

——计量型数据和计数型数据

——总体与样本

——统计量:均值、方差、标准差

——正态分布——品管核心统计理论

——用正态分布展示和评价过程

——过程的位置和分布(离散度)

 

三、 变异知识

——变异与波动

——质量波动的因素分类--- 5M1E

——特殊原因和共同原因

——统计控制状态

 

四、 控制图原理

——控制图样式

——休哈特“3σ原则”

——分析用控制图和监控用控制图

——常规控制图的分类

——统计过程控制原则

——控制图 8条判异准则

——如何选择控制图

 

五、 控制图数据采集

——为什么要收集数据

——数据收集计划

——采集控制图数据的步骤

——数据的分层问题

 

六、 计量型控制图

1.Xbar-R图 (均值-极差)